Для детального анализа микрорельефа поверхности семян ячменя, обработанных нетермической аргоновой плазмой при атмосферном давлении, использован метод атомно-силовой микроскопии. Образцы обрабатывали СВЧ-плазмой в течение 30 минут и сравнивали с контролем. Методом атомно-силовой микроскопии на отечественном сканирующем зондовом микроскопе СММ-2000 получены топографические кадры с разрешением до 10 нм, вычислены параметры средней шероховатости Ra, среднего размера зёрен Sm микронеровностей на поверхности семян и размера субзёрен S, из которых состоят эти зёрна, а также проведён гранулометрический анализ распределения зёрен по диаметру. После плазменной обработки Ra увеличился с 56 до 94 нм, Sm – с 2,37 до 3,45 мкм, тогда как S уменьшился с 224 до 199 нм, а медианный диаметр зёрен – со 159 до 134 нм. Наблюдаемые изменения находятся в пределах естественной неоднородности рельефа семян.
In this work, the atomic force microscopy method is used for a detailed analysis of the microrelief of the surface of barley seeds treated with non-thermal argon plasma at atmospheric pressure. The samples were treated with microwave plasma for 30 minutes and compared with the control. Using atomic force microscopy on a domestic SMM-2000 scanning probe microscope, topographic images with a resolution of up to 10 nm were obtained, the parameters of the average roughness Ra, the average grain size Sm of the micro-grains on the surface of the seeds and the size of the subgrains S of which these grains consist were calculated, and a granulometric analysis of the grain distribution by diameter was performed. After plasma treatment, Ra increased from 56 to 94 nm, Sm – from 2.37 to 3.45 microns, while S decreased from 224 to 199 nm, and the median grain diameter – from 159 to 134 nm. The observed changes are within the natural heterogeneity of the seed relief. It is important in this work that a powerful tool has been demonstrated – scanning probe microscopy methods – for studying the surfaces of barley seeds treated with non-thermal plasma, as well as other surfaces.
Предпросмотр статьи
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.