Статья: Расчет фоточувствительности пористого кремния для оптоэлектронных устройств (2007)

Читать онлайн

Представлена новая теоретическая модель фоточувствительности пористого кремния, в которой учитывается рекомбинация фотоносителей на поверхности сферических пор. В предположении однородной генерации фотоносителей и диффузионного характера их движения получена формула для фотопроводимости пористого полупроводника. Показано, что фоточувствительность пористого кремния сильно зависит от скорости рекомбинации фотоносителей на поверхности пор, их радиуса и среднего расстояния между порами.

It has been developed a new theoretical model for the photosensitivity of porous silicon which takes into account the recombination of photocarriers at the surfaces of spherical pores. An expression for the semiconductor photoconductivity has been derived under assumption of uniform generation of photocarriers and diffusion character of their movement. The photosensitivity of porous silicon has been shown to strongly depend on the velocity of photocarriers recombination at the pore’s surfaces, radius of pores and average distance between pores.

Ключевые фразы: пористый кремний в оптоэлектронике, расчет фоточувствительности, фотоэлектрические свойства полупроводников
Автор (ы): Монастырский Любомир Степанович (Monastyrskiy L. S.), Соколовский Богдан Степанович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.315.592. Полупроводники
Для цитирования:
МОНАСТЫРСКИЙ Л. С., СОКОЛОВСКИЙ Б. С. РАСЧЕТ ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ПОРИСТОГО КРЕМНИЯ ДЛЯ ОПТОЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2007. №6
Текстовый фрагмент статьи
Моя история просмотров (10)
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.