Статья: Определение времени жизни основных и неосновных носителей заряда в CdHgTe p-типа методом фотопроводимости в магнитном поле (2007)

Читать онлайн

Oпределено время жизни основных и неосновных носителей заряда в пленках МЛЭ CdHgTe p-типа при низких температурах. Обнаружено, что фотопроводимость в магнитном поле в геометрии Фарадея (Е ┴ ВI I k) имеет независящую от магнитного поля составляющую, обусловленную вкладом неравновесных основных носителей (дырок). Этот вклад может составлять до 20 % от амплитуды стационарной фотопроводимости, что приводит к завышению определяемого данным методом значения времени жизни электронов.

In this work a majors and minors lifetimes of charge carriers in layers MBE p-HgCdTe at low temperatures were determined. It has been found that photoconductivity in magnetic field at Faradey geometry (Е┴ВI Ik) have a component, independent from magnetic field. This constant component induced by contribution of major nonequilibrium charge carriers (heavy holes). Was demonstrated that such contribution may make up to 20 % from magnitude of stationary photoconductivity. It overestimate of electrons lifetime, determined by this method.

Ключевые фразы: cdhgte p-типа, фотопроводимость в магнитном поле, время жизни носителей заряда
Автор (ы): Протасов Д. Ю. (Protasov D. YU.), Овсюк Виктор Николаевич, Костюченко В. Я., Крылов В. С.
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.315.592. Полупроводники
Для цитирования:
ПРОТАСОВ Д. Ю., ОВСЮК В. Н., КОСТЮЧЕНКО В. Я., КРЫЛОВ В. С. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ ОСНОВНЫХ И НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В CDHGTE P-ТИПА МЕТОДОМ ФОТОПРОВОДИМОСТИ В МАГНИТНОМ ПОЛЕ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2007. №6
Текстовый фрагмент статьи
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.