Статья: Новый метод численного моделирования стационарных флуктуационных явлений в полупроводниковых структурах и приборах (2007)

Читать онлайн

На основе модификации метода Ланжевена предложен новый метод численного моделирования стационарных флуктуационных явлений в полупроводниковых структурах и приборах. Основная система уравнений предложенного метода представляет собой систему линейных алгебраических уравнений для расчета корреляторов флуктуаций концентраций подвижных носителей и токов, обусловленных как случайным характером процессов генерации—рекомбинации, так и случайным характером процессов рассеяния, а не систему стохастических дифференциальных уравнений. Результаты численного расчета спектральной плотности шума тестового n+-p-перехода хорошо совпадают с аналитическим решением.

On the basis of modification of the Langevin method a new method of numerical analysis of stationary fluctuation phenomena in the semiconductor structures and devices is proposed. The main system of equations of the method is the system of linear algebraic equations for computation of correlators of fluctuations of concentrations of mobile carriers and currents and not a system of stochastic differential equations. The method take into account both the accidental nature of processes of generation—rekombination, and the accidental nature of scattering processes. Results of numeral computation of spectral density of noise of test n+-p-junction well agree with the analytical solution.

Ключевые фразы: численное моделирование стационарных флуктуационных явлений, полупроводниковые структуры и приборы, методы анализа электронного шума
Автор (ы): Селяков Андрей Юрьевич (Selyakov A. Y.)
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.383. Фотоэлектроника
Для цитирования:
СЕЛЯКОВ А. Ю. НОВЫЙ МЕТОД ЧИСЛЕННОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ СТАЦИОНАРНЫХ ФЛУКТУАЦИОННЫХ ЯВЛЕНИЙ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУРАХ И ПРИБОРАХ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2007. №6
Текстовый фрагмент статьи
Моя история просмотров (10)
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.