Статья: Температурная зависимость средней длины прыжка в структурах на основе InGaN/GaN (2008)

Читать онлайн

Исследованы зависимости среднего расстояния прыжка R = ƒ(U, T) носителей заряда от температуры и напряжения для гетероструктуры на основе InGaN/GaN. Предложено объяснение наблюдаемых особенностей. Установлено и объяснено наличие скачка в изменении зависимости R = ƒ(T).

Dependences of average distance for a jump R = ƒ(U, T) of charge carriers on temperature and pressure for the InGaN/GaN heterostructure were investigated in this work. The explanation of observable features is offered.

Ключевые фразы: полупроводники, светодиоды, структуры на основе ingangan
Автор (ы): Грушко Наталья Сергеевна (Grushko N. S.), Потанахина (Вострецова) Любовь Николаевна
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.315.592. Полупроводники
Для цитирования:
ГРУШКО Н. С., ПОТАНАХИНА (. Л. ТЕМПЕРАТУРНАЯ ЗАВИСИМОСТЬ СРЕДНЕЙ ДЛИНЫ ПРЫЖКА В СТРУКТУРАХ НА ОСНОВЕ INGAN/GAN // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2008. №1
Текстовый фрагмент статьи
Моя история просмотров (10)
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.