Статья: Исследование температурных зависимостей вольтамперных характеристик фотодиодов CdHgTe, изготовленных на подложках GaAs, Si и CdZnTe (2026)

Читать онлайн

Исследованы температурные зависимости вольтамперных характеристик (ВАХ) фотодиодных структур на основе соединений CdHgTe (КРТ). Установлено влияние материала подложки для эпитаксиального роста на механизмы переноса заряда в полупроводниковых структурах. Показано, что КРТ фотодиоды на подложках Si обладают увеличенным током генерации-рекомбинации, по сравнению с фотодиодами, выращенными на подложках CdZnTe (КЦТ) и GaAs

The temperature dependences of CdHgTe photodiode current-voltage characteristics have been investigated. The influence of the substrate for epitaxy on the charge transfer mechanisms in semiconductor structures has been identified and studied. It has been revealed that CdHgTe photodiodes on Si substrates have an increased generation-recombination current compared to photodiodes grown on CdZnTe and GaAs substrates

Ключевые фразы: фотодиодная структура, CdHgTe, КРТ, вольтамперная характеристика (вах), темновой ток
Автор (ы): Маслюков Евгений Анатольевич (Maslyukov E. A.), Болтарь Константин Олегович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.383.4. Фотоэлементы с внутренним фотоэффектом. Фоторезисторы
621.383.5. Фотоприемники с запирающим слоем
Для цитирования:
МАСЛЮКОВ Е. А., БОЛТАРЬ К. ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕМПЕРАТУРНЫХ ЗАВИСИМОСТЕЙ ВОЛЬТАМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОДИОДОВ CDHGTE, ИЗГОТОВЛЕННЫХ НА ПОДЛОЖКАХ GAAS, SI И CDZNTE // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2026. №4
Текстовый фрагмент статьи
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.