Статья: Спектральная плотность флуктуаций диффузионного тока p-n-переходов с короткой базой. Часть I (2009)

Читать онлайн

На основе точного решения уравнения Ланжевена рассчитана спектральная плотность флуктуаций диффузионного тока обратносмещенного p-n-перехода с короткой базой SJd для случаев омического и блокирующего контактов к базе. Показано, что так же, как и в случае р-n-перехда с длинной базой в случае омического и блокирующего контактов к базе SJd в достаточно широком частотном диапазоне указанная спектральная плотность определяется формулой Шоттки. При этом на высоких частотах шумы диффузионного тока обусловлены случайным характером процессов рассеяния, а доминирующий механизм шума на низких частотах определяется типом контакта к базе.

On the basis of exact solution of Langevin equation a fluctuations spectral density of diffusion current of reverse-biased p-n-junction with short base SJd for cases ohmic and blocking contact to the base was calculated. It is shown, what similarly to the case of p-n-junction with a long base, in both cases of ohmic and blocking contact to the base in wide enough frequency range SJd determined by the formula of Schottky. Thus, on high frequencies noise of diffusion current is determined by stochastic character of scattering processes, and dominant mechanism of noise on low frequencies is determined the type of contact to the base.

Ключевые фразы: спектральная плотность, p-n-переход, флуктуация, диффузионный ток, формула шоттки
Автор (ы): Селяков Андрей Юрьевич (Selyakov A. Y.)
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.383. Фотоэлектроника
Для цитирования:
СЕЛЯКОВ А. Ю. СПЕКТРАЛЬНАЯ ПЛОТНОСТЬ ФЛУКТУАЦИЙ ДИФФУЗИОННОГО ТОКА P-N-ПЕРЕХОДОВ С КОРОТКОЙ БАЗОЙ. ЧАСТЬ I // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2009. №6
Текстовый фрагмент статьи
Моя история просмотров (10)
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.