Статья: Метод оценки характеристик безотказности матричных ФПУ по зависимости фотоэлектрических параметров от наработки (2009)

Читать онлайн

Рассмотрены вопросы оценки вероятности безотказной работы матричных фотоприемных устройств (МФПУ) через такие измеряемые параметры, как удельная обнаружительная способность, ограниченные шумом мощность (NEP) и облученность (NEI). Показано, что технические требования к МФПУ позволяют однозначно оценивать вероятность безотказной их работы.

Considered are questions of estimation of probability for non-failure operation of the array photodetective assemblies (APDA) through such measured parameters, as specific detectivity, noise established power (NEP), noise established irradiation (NEI). It is shown that technical requirements to the APDA allow to estimate probability for non-failure operation of the APDA unequivocally.

Ключевые фразы: матричные фотоприемные устройства, технические требования к мфпу, параметры мфпу
Автор (ы): Бурлаков Игорь Дмитриевич (Burlakov I. D.), Болтарь Константин Олегович, Патрашин Александр Иванович, Дегтярев Е. В., Солодков А. А.
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.383. Фотоэлектроника
Для цитирования:
БУРЛАКОВ И. Д., БОЛТАРЬ К., ПАТРАШИН А. И., ДЕГТЯРЕВ Е. В., СОЛОДКОВ А. А. МЕТОД ОЦЕНКИ ХАРАКТЕРИСТИК БЕЗОТКАЗНОСТИ МАТРИЧНЫХ ФПУ ПО ЗАВИСИМОСТИ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ОТ НАРАБОТКИ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2009. №4
Текстовый фрагмент статьи
Моя история просмотров (7)
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.