Целью данной работы являлось обеспечение возможности нанесения покрытия цезий-йод заданной толщины на микроканальную пластину (МКП) методом вакуумно-термического распыления, а также исследование влияния толщины этого покрытия на параметры микроструктуры МКП. Расчётные значения толщин сопоставлялись с данными, полученными методом сканирующей зондовой микроскопии. Параметры микроструктуры МКП измерялись с помощью оптического микроскопа. Обнаружено удовлетворительное согласование расчётной величины толщины с результатами прямых измерений на сканирующем зондовом микроскопе, что позволяет наносить покрытия разной толщины, опираясь на приводимый расчёт.
Cesium-iodine (CsI) photocathode, having sensitivity in the vacuum ultraviolet region, can be applied directly to microchannel plate (MCP) to create “sun-blind” detectors. Properties of the applied CsI photocathode and parameters of the UV detector depend, among other factors, on the thickness of the photocathode, therefore it is important to be able to apply a coating of a given thickness. The purpose of this work was to ensure the possibility of applying a cesium-iodine coating of a given thickness on the MCP using vacuum-thermal sputtering, and to study the effect of different coating thicknesses on the microstructure parameters of the MCP. The calculated thickness values were compared with the values directly measured using a scanning probe microscope. The microstructure parameters of the MCP were measured using an optical microscope. An acceptable correspondence has been established between the calculated thickness and its direct measurement using a scanning probe microscope, which makes it possible to apply coatings of different thicknesses using the above calculation.
Предпросмотр статьи
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.