Научный архив: статьи

Целью данной работы являлось обеспечение возможности нанесения покрытия цезий-йод заданной толщины на микроканальную пластину (МКП) методом вакуумно-термического распыления, а также исследование влияния толщины этого покрытия на параметры микроструктуры МКП. Расчётные значения толщин сопоставлялись с данными, полученными методом сканирующей зондовой микроскопии. Параметры микроструктуры МКП измерялись с помощью оптического микроскопа. Обнаружено удовлетворительное согласование расчётной величины толщины с результатами прямых измерений на сканирующем зондовом микроскопе, что позволяет наносить покрытия разной толщины, опираясь на приводимый расчёт.

Определена возможность использования ФЭУ-МКП «Топаз» в качестве спектрометрического датчика. Исследован характер зависимости средней амплитуды импульса ФЭУ от числа электронов, испускаемых фотокатодом под воздействием вспышки сцинтиллятора, произведена оценка собственного амплитудного разрешения ФЭУ. Предложен и опробован способ определения количества фотоэлектронов в «пакете» при многофотонном импульсном облучении по выходному току ФЭУ-МКП. Полученные экспериментальные данные – линейная зависимость амплитуды импульсов от количества электронов в «пакете» при многофотонном импульсном облучении и достаточно низкое собственное амплитудное разрешение – позволяют сделать вывод о возможности использования ФЭУ-МКП «Топаз» в качестве спектрометрического датчика в сцинтилляционном спектрометре.