Проведены электронографические исследования структуры аморфных кремниевых пленок, полученных магнетронным распылением в вакууме, и поликристаллических кремниевых пленок, полученных пиролизом моносилана при пониженном давлении. Отмечены лучшее структурное совершенство поликремниевых затворов и больший процент выхода мультиплексоров, использующих аморфные кремниевые пленки. В качестве омических контактов к болометрическим слоям на основе высокоомного a-Si рассмотрена система аморфный кремний — ванадий.
In this paper is adduced investigation on films a-Si made by magnetron evaporation of silicon In vacuum and comparison with CVD polysiticon is given. It is shown, the a-Si films after diffusion and treatments have best perfection of structure. Producing multiplexers 128x128 and 384x256 on basis MOS transistors with a-Si gates have better issue. System V—aSi, made by magnetron evaporation is examined in the capacity of contacts to highly resistance films a-Si.
Предпросмотр статьи
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.