Статья: Исследование пленок a-Si и применение их в технологии матричных МОП-мультиплексоров и болометров (2008)

Читать онлайн

Проведены электронографические исследования структуры аморфных кремниевых пленок, полученных магнетронным распылением в вакууме, и поликристаллических кремниевых пленок, полученных пиролизом моносилана при пониженном давлении. Отмечены лучшее структурное совершенство поликремниевых затворов и больший процент выхода мультиплексоров, использующих аморфные кремниевые пленки. В качестве омических контактов к болометрическим слоям на основе высокоомного a-Si рассмотрена система аморфный кремний — ванадий.

In this paper is adduced investigation on films a-Si made by magnetron evaporation of silicon In vacuum and comparison with CVD polysiticon is given. It is shown, the a-Si films after diffusion and treatments have best perfection of structure. Producing multiplexers 128x128 and 384x256 on basis MOS transistors with a-Si gates have better issue. System V—aSi, made by magnetron evaporation is examined in the capacity of contacts to highly resistance films a-Si.

Ключевые фразы: фотоэлектроника, элементная база и технология, физика
Автор (ы): Борисов В. К. (Borisov V. K.), Климанов Е. А., Каган Н. Б., Курбет И. Ю., Лисейкин В. П.
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.383. Фотоэлектроника
Для цитирования:
БОРИСОВ В. К., КЛИМАНОВ Е. А., КАГАН Н. Б., КУРБЕТ И. Ю., ЛИСЕЙКИН В. П. ИССЛЕДОВАНИЕ ПЛЕНОК A-SI И ПРИМЕНЕНИЕ ИХ В ТЕХНОЛОГИИ МАТРИЧНЫХ МОП-МУЛЬТИПЛЕКСОРОВ И БОЛОМЕТРОВ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2008. №3
Текстовый фрагмент статьи
Моя история просмотров (10)
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.