Метод неразрушающего контроля надежности PIN-фотодиодов по вольт-амперным характеристикам (2010)
Метод диагностики PIN-фотодиодов с охранным кольцом, основанный на анализе вольт‐амперных характеристик и дифференциальных m- и n-параметров, был разработан для установления механизмов деградации при испытаниях на длительную наработку (life time) и контроля надежности “идеальных” и “неидеальных” фотодиодов с дефектами, приводящими к параметрическим отказам.
Издание:
ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА
Выпуск:
№2 (2010)