Научный архив: статьи

Приведены результаты экспериментальных исследований спектрального состава импульсного рентгеновского излучения плазменного фокуса в диапазоне энергий квантов 1,5 кэВ ≤ hv ≤ 400 кэВ. В спектре излучения выделены три участка, в пределах каждого из которых спектр излучения носит квазитепловой характер с соответствующей эффективной температурой.

Представлены результаты исследований группы быстрых электронов плазмы СВЧ-разряда в магнитной ловушке “Магнетор”. Информация о наличии и расположении данной группы электронов важна для определения полного давления плазмы с учетом проведенных ранее зондовых измерений. Установлено, что быстрые электроны локализованы внутри магнитной сепаратрисы в области удержания основной плазмы. Максимальная энергия быстрых электронов выше 25 кэВ.

Представлены экспериментальные результаты исследования спектра рентгеновского излучения плазмы микропинчевого разряда получаемого на установке «низкоиндуктивная вакуумная искра». Получены зависимости выхода рентгеновской эмиссии плазмы микро-пинчевого разряда от разрядного тока и конфигурации электродов, в том числе при их естественной эрозии

В работе впервые проведена рентгеновская диагностика автоколебательного вторичноэмиссионного разряда. В качестве основного инструмента рентгеновской диагностики использовался спектрометр на основе термолюминесцентных детекторов. Проведенные исследования указывают на наличие в обратном потоке группы электронов с энергией, значительно (на порядок) превышающей ее возможный прирост при однократном прохождении осциллирующего коллекторного напряжения.

Проведены исследования рентгеновского излучения плазмы микропинчевого разряда на установке типа «низкоиндуктивная вакуумная искра» в зависимости от элементного состава материала анода разрядной системы. Установлена зависимость параметров плазмы и вид спектра рентгеновского излучения от элементного состава материала анода разрядной системы. Эксперименты показали, что с ростом атомного заряда ядра Z материала анода разрядной системы увеличивается электронная температура Te плазмы и возрастает интенсивность жесткого рентгеновского излучения.

Представлена методика и результаты исследования спектрального состава рентгеновского излучения из различных областей плазмы микропинчевого разряда на установке типа «низкоиндуктивная вакуумная искра». Измерены спектры рентгеновского излучения в диапазоне энергий квантов 1–30 кэВ из области плазменной точки, из области прианодной плазмы и анода плазмы микропинчевого разряда. Экспериментально установлено, что интенсивность рентгеновского излучения плазменной точки превышает интенсивность рентгеновского излучения из области прианодной плазмы и анода в исследуемом диапазоне энергий.

Описана методика и приведены результаты исследования спектрального состава и выхода рентгеновского излучения плазмы микропинчевого разряда, получаемой на установке типа «низкоиндуктивная вакуумная искра» в зависимости от полярности электродов разрядной системы. Измерения проводились с помощью созданных диагностических систем, функционирующих на основе термолюминесцентных и сцинтилляционных детекторов. Это позволило производить измерения в диапазоне энергий рентгеновских квантов 1–300 кэВ.

Создан комплекс диагностической аппаратуры с многоканальным сцинтилляционным спектрометром рентгеновского излучения в энергетическом диапазоне 270 кэВ с наносекундным временным разрешением и разработана методика измерений. Исследована динамика спектрального состава импульсного рентгеновского излучения плазмы микропинчевого разряда на установке типа «низкоиндуктивная вакуумная искра». Проведенные исследования позволили получить экспериментальные результаты динамики электронной температуры Te плазмы в процессе микропинчевого разряда и определить последовательность образования жесткого рентгеновского излучения.