Статья: Предпосылки создания FIB на ионах He+ с разрешением 1,6 нм для исследования металлических наноструктур (2008)

Читать онлайн

Предложен и рассчитан сканирующий зондовый микроскоп (Focused Ion Beam или FIB) на медленных ионах He+, регистрирующий вместо кинетической вторичной электронной эмиссии потенциальную вторичную эмиссию и использующий коррекцию осевых аберраций с помощью комбинированного электромагнитного зеркала. Показано, что при условии коррекции одной только хроматической аберрации, FIB позволит получать разрешение 1,6 нм при исследовании металлических нанообъектов, что приблизительно в 4—6 раз лучше, чем разрешение существующих ионных микроскопов.

A focused ion beam microscope (FIB) on slow He+ ions registering a potential secondary electron emission instead of kinetic secondary electron emission and using correction of axial aberrations with the help of the combined electromagnetic mirror is offered. It is shown that this FIB under condition of correction of only chromatic aberration of second order will allow to obtain the resolution of 1.6 nanometers at research of metallic nanoobjects. These values are approximately 4—6 time better than the resolution of existing FIB and SEM.

Ключевые фразы: электронная оптика, электронные микроскопы, сканирующий зондовый микроскоп (focused ion beam или fib) на медленных ионах he
Автор (ы): Жуков В. А. (ZHukov V. A.)
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
537.533.3. Электронная оптика
621.385.833.2. Электронные микроскопы
Для цитирования:
ЖУКОВ В. А. ПРЕДПОСЫЛКИ СОЗДАНИЯ FIB НА ИОНАХ HE+ С РАЗРЕШЕНИЕМ 1,6 НМ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ НАНОСТРУКТУР // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2008. №2
Текстовый фрагмент статьи
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.