На основе анализа опубликованных и оригинальных экспериментальных результатов представлены две общие характерные особенности планарных p+—n-переходов на Si и InSb, а именно, наличие эффекта электротренировки и положительное влияние на прямые и обратные ветви ВАХ дополнительного короткозамкнутого близкорасположенного планарного p+—n-перехода. Обсуждены механизмы проявления каждой из этих особенностей и дано предположение о возможности их повторения на планарных p+—n-переходах из других полупроводниковых материалов.
Obtained are two common characteristic peculiarities of the planar p+—n-junctions on Si and InSb — presence of the electrotraining effect and positive influence of the additional neareplaced planar short-circuit p+—n-junctions on the direct and reverse volt-ampear characteristics. These peculiarities are discussed. It can be made a supposition that they will repeat on planar p+—n-junctions from others semiconductor materials.
Предпросмотр статьи
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.