Книга: Электронная микроскопия тонких кристаллов
В настоящее время электронная микроскопия является одним из основных и высокоэффективных методов экспериментального исследования в физике твёрдого тела, материаловедении, биологии, химии и т. д., широко применяемым не только в научно‑исследовательских институтах и вузах, но и в промышленных лабораториях.
Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено теориям дифракции электронов и дифракционного контраста, интерпретации и анализу электронных микрофотографий и микроэлектронограмм реальных кристаллов.
Авторы книги — крупные английские учёные, известные своим большим вкладом в теорию, методику и применения электронной микроскопии кристаллов.
Книга предназначена для научных работников и инженеров, использующих электронную микроскопию в исследовательских и прикладных целях, а также для преподавателей и студентов — материаловедов и кристаллофизиков — в качестве дополнительного пособия по электронной микроскопии.
Информация о документе
- Формат документа
- PDF, DJVU
- Кол-во страниц
- 452 страницы
- Загрузил(а)
- Лицензия
- —
- Доступ
- Всем
Информация о книге
- Издательство
- Мир
- Год публикации
- 1968
- Каталог SCI
- Науки о Земле
Статистика просмотров
Статистика просмотров книги за 2026 год.
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию книги, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.