Статья: Исследования характеристик фоторезисторов из CdxHg1-xTe при сильных засветках (2011)

Читать онлайн

В работе исследованы характеристики КРТ‐фоторезисторов при сильных фоновых засветках.

Results of investigation of the CdxHg1-xTe photoresistors at a strong background light are represented in this report.

Ключевые фразы: фоторезистор, фотоприемник, фоновая засветка, фоточувствительность
Автор (ы): Горелик Леонид Иосифович (Gorelik L. I.), Куликов Константин Михайлович, Уткин Александр Александрович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.384.3. Инфракрасная техника
Для цитирования:
ГОРЕЛИК Л. И., КУЛИКОВ К. М., УТКИН А. А. ИССЛЕДОВАНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОРЕЗИСТОРОВ ИЗ CDXHG1-XTE ПРИ СИЛЬНЫХ ЗАСВЕТКАХ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2011. №1
Текстовый фрагмент статьи
Моя история просмотров (10)
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.