Статья: Новый способ расчета матричных поправок в рентгеноспектральном микроанализе (2012)

Читать онлайн

Представлен метод расчета поправки на поглощение рентгеновского характеристического излучения при количественном рентгеноспектральном микроанализе, основанный на новом методе расчета функции распределения по глубине рентгеновского характеристического излучении φ(ρz).

The new method for calculating the X-ray absorption effects at the X-ray analysis is proposed. It is based on the calculation of the depth intensity distribution for X-ray spectral lines φ(ρz).

Ключевые фразы: количественный рентгеноспектральный микроанализ, матричные поправки, характеристическое рентгеновское излучение
Автор (ы): Михеев Николай Николаевич (Miheev N. N.), Степович Михаил Адольфович, Широкова Екатерина Васильевна
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
537.533.35. Электронная микроскопия
53.072. Модели
Для цитирования:
МИХЕЕВ Н. Н., СТЕПОВИЧ М. А., ШИРОКОВА Е. В. НОВЫЙ СПОСОБ РАСЧЕТА МАТРИЧНЫХ ПОПРАВОК В РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОМ МИКРОАНАЛИЗЕ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2012. №2
Текстовый фрагмент статьи
Моя история просмотров (10)
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.