В работе представлена компактная модель МОП-транзистора для криогенных температур на основе линеаризации инверсионного заряда. В базовую электростатику ядра модели включено влияние заряда поверхностных состояний с экспоненциальным энергетическим распределением, зависящего от напряжения. Выведены уравнения для тока канала и полных зарядов для квазистатической динамической модели через инверсионный заряд. Точность модели была подтверждена с помощью приборно-технологического моделирования в TCAD.
This paper presents a physics-based analytical compact model for MOS transistors operat-ing at cryogenic temperature, the model is based on inversion charge linearization. Influ-ence of bias dependent surface traps charge with exponential distribution is included in electrostatics in core of the compact model. The expressions of current and quasistatic dy-namic model are derived in terms of inversion charge and results are validated with technology computer-aided design (TCAD) data.
Предпросмотр статьи
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
- УДК
- 621.382. Электронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника
- eLIBRARY ID
- 41751373
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.